– velika brzina ispitivanja 50 ms
– testni napon 25 V do 1.000 V s rezolucijom 1 V
– ispitivanje otpora izolacije do 9.999 MΩ (na 500 V ili 1.000 V)
– funkcije memorije, komparatora, mjerenja vremena
– ugrađeni eksterni I/O izlaz